Argolight – management kvality pro zobrazovací systémy

||Argolight – management kvality pro zobrazovací systémy

Argolight – management kvality pro zobrazovací systémy

Systém kontroly kvality pro fluorescenční systémy

Systémy založené na analýze fluorescence vykazují denní fluktuace vedoucí k nekonzistenci výstupních dat. Systém kontroly kvality Argolight založený na denní optimalizace pomocí standardizovaných sklíček a analytického software zajistí reprodukovatelnost výsledků a včas upozorní na poruchy ve funkci jakéhokoli systému využívajícího fluorescenční zobrazovací techniky.

V nabídce jsou tři systému:

  • Argo-LM sklíčko je speciálně navrženo pro systémy s nižším zvětšením, typicky v rozsahu 5x až 20×.
  • Argo-HM sklíčko je speciálně navrženo pro systémy s vysokým zvětšením, typicky v rozsahu 20x až 100×.
  • Argo-SIM sklíčko je speciálně navrženo pro všechny systémy využívající strukturované osvětlení nebo využívající dekonvoluční algoritmy.

Tyto kalibrační nástroje jsou složeny ze speciálního skla (ArgoGlass) na nosiči z nerezové oceli. Na skle jsou vytvořeny různé fluorescenční struktury. Jsou take pozorovatelné při klasickém procházejícím světle, v temném poli, za použití fázového kontrastu nebo pomocí DIC (Differential Interference Contrast). Tyto struktury jsou přesně umístěné a stabilní i při dlouhodobém osvětlení. Analýza struktur použitých na skle může být automatizována a zjednodušena z apoužití softwarového řešení Argolight Daybook.

Struktury na sklíčku

Struktury jsou umístěny 170 ± 5 μm pod povrchem skla v horizontální rovině, jejíž maximální odchylka od ideální roviny je v rozsahu ± 5 mrad. To napodobuje přítomnost krycího skla o tloušťce 170 ± 5 μm a refrakčním indexu 1.5255 ± 0.0015 měřeno při 546.1 nm. Maximální relativní poziční chyba je ± 110 nm v XY a ± 110 nm v Z u každé jednotlivé struktury. Tloušťka struktur v ose Z je v rozsahu 600 ± 200 nm FWHM (Full Width at Half Maximum).

 

 

 

Fluorescenční parametry.

Fluorescenční struktury jsou tvořeny z následujících florochromů a zajišťují tak kompatiblitu se zobrazovacími systémy v rozsahu 350-800nm

2018-01-10T11:58:48+00:00 4. Leden, 2018|Mikroskopické techniky|